【中國國際招標(biāo)網(wǎng)】

項(xiàng)目名稱：缺陷掃描設(shè)備

招標(biāo)項(xiàng)目編號：0613-244022193649

招標(biāo)范圍：缺陷掃描設(shè)備

招標(biāo)機(jī)構(gòu)：上海機(jī)電設(shè)備招標(biāo)有限公司

招標(biāo)人：上海新微半導(dǎo)體有限公司

開標(biāo)時(shí)間：2024-08-20 10:00

公示時(shí)間：2024-08-26 13:12 - 2024-08-29 23:59

中標(biāo)結(jié)果公告時(shí)間：2024-08-30 15:09

中標(biāo)人：KLA Corporation

制造商：KLA?Corporation

制造商國家或地區(qū)：美國